加速壽命試驗通過提高應力水平，快速激發(fā)失效，以推算正常工況下的壽命與可靠性。

一、ALT標準框架

試驗目的與指標

指標：MTBF、B10壽命、失效分布模型（如Weibull）。

樣品選擇

代表性樣品≥5–10個，覆蓋量產工藝波動。

應力選擇與剖面

應力類型：溫度、振動、負載。

應力水平：3–5個水平，應力略高于工況。

剖面：多用恒定應力，也可步進或序進。

失效判據

明確何為失效：如葉片可見裂紋、電機電流超額定20%、微動開關阻抗>1 Ω。

數據收集與失效分析

記錄失效時間，進行根本原因分析（RCA），確認失效機理與預期一致。

模型建立與外推

加速模型：溫度用Arrhenius模型，振動用逆冪律模型。

外推壽命：將模型外推至正常應力（如40℃），計算MTBF/B10壽命及置信區(qū)間。